溼法全自動鐳射粒度儀

LAP-W2000H溼法全自動鐳射粒度儀

LAP-W2000H溼法全自動鐳射粒度儀是我公司傾力研發的新產品│☁▩▩•，自上市以來贏得了廣大客戶的*↟•✘│。LAP-W2000H採用先進的Mie氏散射原理和會聚光傅立葉變換光路↟•✘│。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法│☁▩▩•，保證了測試結果的準確性和重複性↟•✘│。*的溼法迴圈分散系統│☁▩▩•，保證顆粒測試過程中無顆粒沉積現象│☁▩▩•，測試排水後無廢液積存現象│☁▩▩•，保證了第二次測試精度│☁▩▩•，使測試結果更真實可靠；同時採取了管道無殘留設計│☁▩▩•，保證了測試不同樣品的準確性↟•✘│。優越的光路自動校對系統彰顯出LAP-W2000H*優勢↟•✘│。

智慧型鐳射粒度分析儀控制系統原理圖◕•╃│：

LAP-W2000H鐳射粒度分析儀主要效能特點◕•╃│：

★先進的光路設計◕•╃│：LAP-W2000H採用會聚光傅立葉變換測試技術保證在短的焦距獲得大量程│☁▩▩•，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測單元│☁▩▩•，讓LAP-W2000H擁有了*的小顆粒測試能力│☁▩▩•，高密度探測單元使LAP-W2000H具有*的全量程無縫測試能力│☁▩▩•，高配版採用了雙光路設計↟•✘│。

★防塵·✘₪••、防震設計◕•╃│：儀器整體進行了密封設計│☁▩▩•，大幅提高了內部元器件使用壽命↟•✘│。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾│☁▩▩•，使結果測試更穩定可靠↟•✘│。

★雙光路雙鐳射器◕•╃│：LAP-W2000H高配版採用了雙光路多鏡頭設計│☁▩▩•，主光采用高穩定·✘₪••、長壽命的進口光纖半導體鐳射器│☁▩▩•，輔光采用高穩定·✘₪••、長壽命的進口光纖半導體鐳射器（λ=635nm,  p>5mW）↟•✘│。

★自動對中◕•╃│：採用機械中心與光學中心相結合技術│☁▩▩•，光路自動調整定位更準確│☁▩▩•，達到微米級別；同時光路調整速度個更快捷快15秒即可完成調整↟•✘│。自行研製的自動對中系統包括步進電機·✘₪••、精密導軌·✘₪••、精密控制器以及軟體系統組成│☁▩▩•，小步距0.2微米│☁▩▩•，保證鐳射束焦點始終從探測器中心點穿過│☁▩▩•，提高測試結果的準確性以及測試的重複性↟•✘│。自動對中系統是耐克特所有型號鐳射粒度儀的標準配置↟•✘│。

★*微量迴圈系統◕•╃│：整個分散迴圈系統進行了最佳化設計│☁▩▩•，分散介質大於180毫升即可迴圈測試│☁▩▩•，真正達到了微量迴圈測試；所有接頭採用了速插快擰設計│☁▩▩•，短時間內即可更換全部管道；最佳化的設計保證排水後無廢夜殘留│☁▩▩•，保證了下一次測試結果的準確性↟•✘│。

★超寬量程◕•╃│：LAP-W2000H量程達到了0.01μm～2000μm↟•✘│。

★超聲防乾燒◕•╃│：LAP-W2000H配備了100W大功率超聲│☁▩▩•，同時具有超聲防乾燒功能↟•✘│。

★誤操作保護◕•╃│：LAP-W2000H具有自我保護功能│☁▩▩•，對一些會損害儀器的誤操作不響應│☁▩▩•，大大降低了因人為誤操作造成的損壞↟•✘│。

★露點測量◕•╃│：樣品窗結霧會影響測量的準確性│☁▩▩•，這樣的測試結果沒有實際意義│☁▩▩•，LAP-W2000H加裝了有霧點測量系統│☁▩▩•，一旦起霧軟體會自動提示↟•✘│。

★免排氣泡設計◕•╃│：全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗│☁▩▩•，避免了氣泡干擾（免排氣泡功能技術我們擁有）↟•✘│。

★樣品無殘留設計◕•╃│：儀器管道及排水結構進行了最佳化設計│☁▩▩•，儀器管道·✘₪••、迴圈泵內無積液殘留│☁▩▩•，避免對下一次測試資料的影響；幹法測試同樣進行了無殘留設計↟•✘│。

★樣品窗快換裝置◕•╃│：全新設計的樣品窗快換裝置│☁▩▩•，使樣品窗更換更方便快捷（20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程）↟•✘│。

軟體◕•╃│：符合藥典GMP規定│☁▩▩•，具有電子簽名·✘₪••、許可權設定·✘₪••、資料追蹤·✘₪••、資料不可更改等功能↟•✘│。對於製藥行業客戶│☁▩▩•，可以提供3Q認證↟•✘│。穩定性及重複性達到國外馬爾文儀器標準

測試介面

光路自動對中功能圖

主要技術引數◕•╃│：

測試報告◕•╃│：